溫度循環(huán)試驗(yàn)公司,上海溫度循環(huán)試驗(yàn),高低溫循環(huán)測(cè)試,宜特檢測(cè)
溫度循環(huán)試驗(yàn) (Thermal Cycling Test)
在產(chǎn)品的生命周期中，可能面臨各種環(huán)境的條件下，使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來(lái)，造成產(chǎn)品的損傷或失效，進(jìn)而影響到產(chǎn)品的可靠度。
以每分鐘5~15度的溫變率，在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測(cè)試，此試驗(yàn)并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加應(yīng)力于試件上，加速試件之老化因子，使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生損害系統(tǒng)設(shè)備及零組件，以決定試件是否正確設(shè)計(jì)或制造。
常見(jiàn)的有：
產(chǎn)品之電性功能
潤(rùn)滑劑變質(zhì)而失去潤(rùn)滑作用
喪失機(jī)械強(qiáng)度，造成破裂、裂縫
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學(xué)作用
應(yīng)用范圍：
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品環(huán)境仿真試驗(yàn)
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品應(yīng)力壽命試驗(yàn)(Strife test)
PCB/PCBA/焊點(diǎn)加速應(yīng)力試驗(yàn)(ALT/AST)…
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國(guó)臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無(wú)線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。
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